摘要5-6
Abstract6-11
第1章 绪论11-21
1.1 课题探讨的背景11-12
1.2 高温超导薄膜进展与运用12-16
1.2.1 超导材料的进展历程12-14
1.2.2 超导薄膜的兴起与运用14-15
1.2.3 高温超导薄膜的探讨进展15-16
1.3 Bi系超导薄膜的结构与性能16-19
1.4 超导薄膜织构的探讨近况19
1.5 本论文探讨的内容、目的及作用19-21
第2章 基本原理与探讨策略21-31
2.1 织构的定义及其类型21
2.2 织构的表示策略21-23
2.2.1 晶体学指数表示法22
2.2.2 直接极图表示法22
2.2.3 反极图表示法22-23
2.3 X射线衍射仪(XRD)的工作原理23-24
2.4 电镜(SEM)工作原理24-25
2.5 EBSD取向测试技术原理25-27
2.6 EBSD技术的运用27-28
2.6.1 晶粒取向浅析27
2.6.2 微织构浅析27
2.6.3 物相浅析27
2.6.4 应变浅析27-28
2.6.5 晶粒尺寸和性质浅析28
2.7 EBSD技术的相关基础28-31
2.7.1 晶体学基础28-30
2.7.1.1 对称性28-29
2.7.1.2 晶体结构29
2.7.1.3 原子占位和等效点系29-30
2.7.2 晶体取向的描述30-31
2.7.2.1 坐标系的转换30
2.7.2.2 取向矩阵的欧拉角表示30-31
第3章 Bi-2212超导薄膜的制备31-45
3.1 实验用品及仪器31-32
3.2 薄膜的制备策略32-33
3.3 实验结果与讨论33-43
3.3.1 成分对Bi-2212薄膜的影响33-34
3.3.2 衬底的温度对Bi-2212薄膜的影响34-37
3.3.3 高浓度重氧的制备与重氧分压的选择37-40
3.3.4 衬底的材料选择40-42
3.3.5 沉积速率42-43
3.4 本章小结43-45
第4章 Bi系薄膜织构特性的EBSD浅析45-62
4.1 实验参数的设定45-47
4.1.1 EBSD的分辨率的调整46-47
4.1.2 菊池花样图像处理47
4.1.3 EBSD自动取向成像技术47
4.2 MgO衬底上生长的Bi-2212超导薄膜的测试47-54
4.3 STO衬底上生长的Bi-2212超导薄膜的测试54-59
4.4 讨论59-62
第5章 结论与展望62-63