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半导体NiO掺杂Cu2O基稀磁半导体和实验结果

收藏本文 2024-02-29 点赞:4995 浏览:13507 作者:网友投稿原创标记本站原创

摘要:上个世纪以来,稀磁半导体由于其同时具有电荷和自旋两种自由度,而受到了广泛关注。能够在室温下仍具有铁磁性的稀磁半导体将有非常大的运用前景。在探讨初始,对于稀磁半导体的探讨都集中于过渡金属掺杂的传统化合物半导体,如Mn掺杂Ⅲ-V族半导体,然而居里温度过低成为了限制这些材料运用前景的最大因素。2000年,Dietl等人采取第一性原理计算,在论述上预测了宽直隙禁带半导体材料有可能在高的居里温度下具有铁磁性,许多探讨进而转向了开发这些材料,包括探讨过渡金属掺杂禁带氧化物半导体,如TiO2, ZnO, SnO2等。与上面陈述的氧化物半导体材料相比,以Cu20为基底的稀磁半导体材料受到比较少的关注。Cu20是极少数的本征p型直隙禁带半导体材料之一,具有很多的特性,如果将其作为基底产生的稀磁半导体材料,将可以直接运用于自旋p-n结以及自旋LED灯等多种自选电子器件中。本论文故对Cu20分别进行论述浅析和实验探讨。本论文首先采取基于密度泛函论述的第一性原理策略,选用VASP论述计算软件对不同元素掺杂Cu20的效果进行探讨比对,结果发现Ni离子在Cu20中有较强的自旋相互作用,并且有较高的居里温度。考虑到Ni在Cu20中的固溶度不足,最终选定掺杂NiO浓度为1%的Cu20作为实验的探讨对象。采取了物理固相法作为实验策略,得到掺杂NiO浓度为1%的Cu20样品,并且用同样的策略生成纯Cu20作为比较,用XRD、SEM、PPMS等测试工具,对样品的结构表征、样品组分、晶向及磁性性能等进行探讨浅析。实验结果与论述浅析结果较吻和,样品即使在室温下也体现出较强的铁磁性,证明掺杂NiO浓度为1%的Cu20是具有实际运用前景的稀磁半导体材料。关键词:稀磁半导体论文Cu2O论文p型半导体论文第一性原理论文室温铁磁性论文

    摘要6-7

    Abstract7-9

    目录9-11

    第一章 绪论11-28

    1.1 稀磁半导体的背景11-13

    1.2 稀磁半导体的结构13-15

    1.2.1 稀磁半导体的晶体结构13-14

    1.2.2 稀磁半导体的能隙14-15

    1.3 稀磁半导体的居里温度15-17

    1.4 稀磁半导体磁性来源的论述模型17-23

    1.4.1 RKKY论述和平均场论述17-19

    1.4.2 双交换论述19-20

    1.4.3 超交换论述20-21

    1.4.4 束缚磁极化子模型(BMD论述)21-23

    1.5 稀磁半导体运用前景23-24

    1.6 氧化物稀磁半导体探讨进展24-26

    1.7 本课题选题作用和探讨内容26-28

    1.7.1 选题作用26

    1.7.2 探讨内容26-28

    第二章 论述计算及浅析策略28-40

    2.1 引言28

    2.2 论述计算策略背景知识28-34

    2.2.1 态密度28

    2.2.2 密度泛函论述28-30

    2.2.3 Kohn-Sham方程30-32

    2.2.4 自洽计算32-33

    2.2.5 第一性原理33-34

    2.3 Stoner巡游磁性34-38

    2.4 计算软件介绍38-39

    2.5 本章小结39-40

    第三章 实验探讨策略40-44

    3.1 引言40

    3.2 样品制备策略40-41

    3.2.1 固相反应法介绍40

    3.2.2 实验历程40-41

    3.3 结构表征与物性测试41-42

    3.3.1 扫描电子显微镜(SEM)41

    3.3.2 X射线衍射(XRD)41-42

    3.3.3 多功能物性测量仪(PPMS)42

    3.4 实验原料及仪器42-43

    3.4.1 实验原料42-43

    3.4.2 实验设备及仪器43

    3.5 本章小结43-44

    第四章 不同元素掺杂Cu2O的电子结构和磁性计算44-51

    4.1 引言44

    4.2 晶体模型和计算策略44-46

    4.2.1 Cu2O晶体模型44-45

    4.2.2 计算策略45-46

    4.3 结果与浅析46-50

    4.3.1 sp-d交换作用46-48

    4.3.2 掺杂元素原子间直接交换作用48

    4.3.3 居里温度与载流子浓度的联系48-50

    4.4 本章小结50-51

    第五章 Ni掺杂Cu2O实验探讨结果51-56

    5.1 引言51

    5.2 表面形貌51

    5.3 X射线衍射浅析51-53

    5.4 磁学性能测试53-55

    5.4.1 掺杂样品的MH测试结果53-54

    5.4.2 掺杂样品的MT测试结果54-55

    5.5 本章小结55-56

    第六章 总结与展望56-57

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