分析斜率CMOS图像传感器在二维光电自准直仪中运用查抄袭率

摘要4-5

ABSTRACT5-7

目录7-9

第一章 引言9-12

1.1 光电自准直仪介绍9-10

1.2 CMOS 图像传感器在光电自准直仪中的运用10-11

1.3 本论文的探讨作用和探讨内容11

1.4 本章小结11-12

第二章 CMOS光电自准直仪的工作原理及组成12-18

2.1 自准直测角原理12

2.2 自准直仪的光学系统12-13

2.3 光电自准直仪系统的组成13-14

2.4 主要器件选择14-17

2.4.1 光源的选择14-15

2.4.2 图像传感器的选择15-17

2.5 本章小结17-18

第三章 CMOS光电自准直仪的关键技术浅析18-33

3.1 像点细分定位算法18-22

3.1.1 加权质心法18-19

3.1.2 门限 T 的确定19-21

3.1.3 像点质心位置计算21-22

3.2 随机开窗口功能的实现22-26

3.2.1 成像区域划分22-23

3.2.2 像点捕获判断23-24

3.2.3 目标点成像区域锁定24

3.2.4 像点中心的偏移量计算24-26

3.3 自适应制约26-28

3.4 CMOS 图像传感器的动态范围扩展探讨28-32

3.4.1 动态范围的定义28-29

3.4.2 IBIS5-A-1300 多斜率光积分原理介绍29-31

3.4.3 两种积分方式下的成像结果比较31-32

3.5 本章小结32-33

第四章 硬件电路设计与实现33-49

4.1 硬件系统的功能模块组成33-34

4.2 系统电源及复位电路的设计34-35

4.3 JTAG 配置电路的设计35-36

4.4 FPGA 内部功能单元的设计与实现36-43

4.4.1 多斜率积分驱动时序设计37-41

4.4.2 TFT 屏的显示驱动设计41-43

4.5 EEPROM AT25256 的 SPI 接口设计43-48

4.5.1 AT25256 工作原理及配置44-45

4.5.2 与 DSP 的接口电路设计45-46

4.5.3 AT25256 的读写时序46-48

4.6 本章小结48-49

第五章 实验历程及结果浅析49-57

5.1 实验系统组成49

5.2 工程样机的测角精度检测49-54

5.3 系统测量的误差浅析54-56

5.4 本章小结56-57

第六章 总结与展望57-59