摘要6-8
ABSTRACT8-10
目录10-13
缩写与术语13-14
第一章 绪论14-17
§1.1、低成本电子元器件质量浅析制约的作用14-15
§1.2、针对低成本荧光灯电子镇流器的电子元器件质量管理15-16
§1.3、本章小结16-17
第二章 电子元器件六西格玛质量管理策略概述17-29
§2.1、电子元器件的质量17-18
§2.2、国内外电子器件可靠性进展与近况18-19
§2.3、六西格玛介绍19-23
§2.3.1、六西格玛的作用21-22
§2.3.2、六西格玛管理的优势22-23
§2.4、电子元器件质量管理中引入的解决案例(DMAIC 策略)23-28
§2.4.1、DMAIC 模型24-25
§2.4.2、DMAIC 模型在电子元器件质量管理中的运用25-27
§2.4.3、MINITAB 介绍27-28
§2.5、本章小结28-29
第三章 DMAIC 模型运用浅析29-46
§3.1、基于关键元器件的界定 - DEFINE29-31
§3.1.1、关键电子元器件的确定 --- MEOST29-30
§3.1.2、关键电子元器件的确定 --- 排列图法30-31
§3.2、基于关键元器件的测量 - MEASURE31-36
§3.2.1、产品的失效与寿命分布31-32
§3.2.2、加速寿命试验的定义与分类32-34
§3.2.3、GB2689 恒定应力寿命试验和加速寿命试验策略34-36
§3.3、基于测量结果的浅析 - ANALYZE36
§3.4、基于关键元器件的质量改善 - IMPROVE36-43
§3.4.1、试验设计策略介绍37-38
§3.4.2、析因试验设计策略38-41
§3.4.3、响应曲面设计策略41-43
§3.5、基于改善后的历程制约 - CONTROL43-45
§3.5.1、历程改善成果的文件化44
§3.5.2、建立历程制约计划44-45
§3.5.3、实施持续的历程测量和制约45
§3.6、本章小结45-46
第四章 针对低成本荧光灯电子镇流器的元器件质量管理策略46-81
§4.1、荧光灯电子镇流器介绍46-48
§4.1.1、荧光灯电子镇流器的进展及其技术参数46-47
§4.1.2 荧光灯交流电子镇流器的工作原理47-48
§4.2、HS II 荧光灯电子镇流器中关键电子元器件的界定48-53
§4.2.1、HS II 荧光灯镇流器成本浅析49
§4.2.2、关键器件的浅析与确定49-53
§4.3、关键电子元器件的可靠性测试53-58
§4.3.1、关键电子器件的加速寿命试验设计53-56
§4.3.2、加速寿命试验结果浅析56-58
§4.4、失效样品的浅析58-61
§4.5、关键电子器件的历程改善61-75
§4.5.1、MOET SW4N60A1 的改善试验设计-部浅析因试验62-68
§4.5.2、MOET SW4N60A1 的改善试验设计-响应曲面试验68-74
§4.5.3、MOET 改善结果的试验验证74-75
§4.6、关键电子器件的改善历程制约75-80
§4.6.1、改善后 MOET 的工艺文件更新76-78
§4.6.2、持续的历程测量与制约78-80
§4.7、本章小结80-81
第五章 总结和展望81-83
§5.1、主要结论81
§5.2、探讨展望81-83