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简析低成本低成本电子元器件质量和制约

收藏本文 2023-12-24 点赞:4413 浏览:11121 作者:网友投稿原创标记本站原创

摘要:现有电子元器件质量管理手段普遍有着着各种不足,不是过于片面、缺乏论述依据或者干脆没有制约,就是要求过于苛刻、不符合实际工作需求。对于消费电子与日用电子等有低成本要求的企业来说,更低电子元器件意味着更低的产品售价、更大的市场吸引力,但是如果没有合适的电子器件质量管理策略来浅析这些器件的品质,那么,等待企业的可能是得不偿失的结果。由此,就需要更合理更有效的器件质量管理策略来帮助企业实现质量与销量的双丰收。本论文就介绍了一种新的电子器件质量管理策略--DMAIC策略,它可以帮助明确关键电子器件、根据实际工作条件进行可靠性测试与验证、对不足器件进行浅析与改善、并最终实现长效制约,提升了质量管理的经济性和有效性。运用DMAIC策略是以论述为依据、数据为依托,可以成功实现器件质量评估、改善与制约。本论文对在电子元器件质量管理系统中引入六西格玛质量管理策略进行了可行性浅析和实例操作,以介绍现有电子元器件质量管理策略入手,浅析了六西格玛DMAIC策略的优点,又以DMAIC的流程着手,详细考虑了本次电子器件认证管理历程中所需进行的界定、测量、浅析、改善、制约步骤。通过对上面陈述的环节的详细浅析,来说明在目前的电子元器件质量管理中融入六西格玛管理中的DMAIC历程,是合理的。通过借助DMAIC流程及其质量浅析、制约工具,成功地对电子镇流器HSII平台中的低成本关键器件进行了重要的寿命浅析与质量改善制约,实现了低成本电子元器件在其项目中的低风险的引入-在达到电子器件成本降低10%目标的同时,镇流器产品在保修期5年30000小时内,整机可靠度为90%的质保目标保持不变,帮助企业实现了材料成本的降低,提升了企业的竞争力。在引入低成本电子元器件的DMAIC浅析中,包括了关键电子元器件的认定、关键器件的可靠性验证试验、失效样品的失效方式浅析、不足历程改善及历程制约,在这中间通过有理有据的试验验证和数据浅析,逐步明确了本论文所述策略的可行性和有效性。由于各类电子企业的迅速进展,本论文对低成本电子元器件质量管理中引入六西格玛策略提供了成功经验。但随着电子消费战的愈演愈烈,对电子产品的进展又会有新的要求,低成本电子元器件的质量管理策略将会更加深入改善。关键词:六西格玛(Six论文Sigma)论文可靠度论文质量管理论文电子镇流器论文低成本电子元器件论文DMAIC论文

    摘要6-8

    ABSTRACT8-10

    目录10-13

    缩写与术语13-14

    第一章 绪论14-17

    §1.1、低成本电子元器件质量浅析制约的作用14-15

    §1.2、针对低成本荧光灯电子镇流器的电子元器件质量管理15-16

    §1.3、本章小结16-17

    第二章 电子元器件六西格玛质量管理策略概述17-29

    §2.1、电子元器件的质量17-18

    §2.2、国内外电子器件可靠性进展与近况18-19

    §2.3、六西格玛介绍19-23

    §2.3.1、六西格玛的作用21-22

    §2.3.2、六西格玛管理的优势22-23

    §2.4、电子元器件质量管理中引入的解决案例(DMAIC 策略)23-28

    §2.4.1、DMAIC 模型24-25

    §2.4.2、DMAIC 模型在电子元器件质量管理中的运用25-27

    §2.4.3、MINITAB 介绍27-28

    §2.5、本章小结28-29

    第三章 DMAIC 模型运用浅析29-46

    §3.1、基于关键元器件的界定 - DEFINE29-31

    §3.1.1、关键电子元器件的确定 --- MEOST29-30

    §3.1.2、关键电子元器件的确定 --- 排列图法30-31

    §3.2、基于关键元器件的测量 - MEASURE31-36

    §3.2.1、产品的失效与寿命分布31-32

    §3.2.2、加速寿命试验的定义与分类32-34

    §3.2.3、GB2689 恒定应力寿命试验和加速寿命试验策略34-36

    §3.3、基于测量结果的浅析 - ANALYZE36

    §3.4、基于关键元器件的质量改善 - IMPROVE36-43

    §3.4.1、试验设计策略介绍37-38

    §3.4.2、析因试验设计策略38-41

    §3.4.3、响应曲面设计策略41-43

    §3.5、基于改善后的历程制约 - CONTROL43-45

    §3.5.1、历程改善成果的文件化44

    §3.5.2、建立历程制约计划44-45

    §3.5.3、实施持续的历程测量和制约45

    §3.6、本章小结45-46

    第四章 针对低成本荧光灯电子镇流器的元器件质量管理策略46-81

    §4.1、荧光灯电子镇流器介绍46-48

    §4.1.1、荧光灯电子镇流器的进展及其技术参数46-47

    §4.1.2 荧光灯交流电子镇流器的工作原理47-48

    §4.2、HS II 荧光灯电子镇流器中关键电子元器件的界定48-53

    §4.2.1、HS II 荧光灯镇流器成本浅析49

    §4.2.2、关键器件的浅析与确定49-53

    §4.3、关键电子元器件的可靠性测试53-58

    §4.3.1、关键电子器件的加速寿命试验设计53-56

    §4.3.2、加速寿命试验结果浅析56-58

    §4.4、失效样品的浅析58-61

    §4.5、关键电子器件的历程改善61-75

    §4.5.1、MOET SW4N60A1 的改善试验设计-部浅析因试验62-68

    §4.5.2、MOET SW4N60A1 的改善试验设计-响应曲面试验68-74

    §4.5.3、MOET 改善结果的试验验证74-75

    §4.6、关键电子器件的改善历程制约75-80

    §4.6.1、改善后 MOET 的工艺文件更新76-78

    §4.6.2、持续的历程测量与制约78-80

    §4.7、本章小结80-81

    第五章 总结和展望81-83

    §5.1、主要结论81

    §5.2、探讨展望81-83

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