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薄膜氮化硅薄膜与多层膜光性能

收藏本文 2024-01-16 点赞:31077 浏览:144157 作者:网友投稿原创标记本站原创

摘要:硅由于性能优异且技术成熟,已经成为了电子工业中最重要的半导体材料,并广泛运用于各个领域。以它们为基础研发的器件已经进入并改善着人们的生活。多孔硅的可见光光致发光,彻底激发了探讨者探讨高效硅基发光材料的兴趣。作为一个在电子和光电器件方面很有进展潜力的材料,氮化硅体现出良好的化学稳定性、高温热稳定性、抗热震性、电绝缘性和硬质性。此外,氮化硅在太阳能电池表面钝化及减反材料方面也有广泛的运用。氮化硅因其优良的特性而得到广泛运用,目前不少学者对该材料进行了细致而深入的探讨,特别是对于SiNx系统纳米薄膜的制备及其光学性质的探讨已取得不少有作用的结果。目前,对于SiNx薄膜的一些物理特性和机制还未完全认清,由此对其还有大量的探讨工作需要进行。本论文主要包括以下两个方面工作:1、探讨不同N含量的SiNx薄膜在高温退火条件下的发光特性。采取超高真空多功能磁控溅射系统,以高纯Si作为靶材,高纯N,和Ar为反应溅射气体,在不同氮气流量比的条件下进行SiNx薄膜制备。在沉积SiNx之前,在Si(100)衬底上生长了一层SO2缓冲层。为了提升其光学性质,制备好样品后,在有N2保护的管式退火炉中进行退火处理,用800℃的温度退火20min。利用室温光致发光光谱(PL)、傅里叶变换红外光谱(FTIR)、扫描电镜(SEM)及X射线光电子能谱(XPS)对SiNx薄膜的性质进行表征。浅析认为,SiNx薄膜的PL是由光生载流子引起的,它们在富硅的SiNx中产生的,转移到氧化硅中复合而发光。氮气流量N=3.2的样品的PL最强,通过SEM发现其微粒是最小的,可见量子尺寸效应有助于PL的增强。组份和结构浅析证明了SiNx薄膜中强烈的PL与Si-N跟Si-O键的含量有关,充足的氧和适度的氮能有效增强光致发光。2、运用K-P模型,我们建立了Si/SiNx超晶格的能带模型,并计算了其能带结构。结合实验浅析了各层膜的厚度与能带结构及有效质量之间的联系。结果表明,适当增加各层膜的厚度使得纳米Si薄膜的带隙有减小的走势。在Si/SiNx超晶格系统中,可以通过制约各层膜的厚度,有效地制约发光。结果证明K-P模型运用于Si/SiNx超晶格结构是有效的,与实验符合的很好。关键词:氮化硅薄膜论文光致发光论文Si/SiNx论文多层膜论文光性能论文

    摘要3-5

    Abstract5-9

    第一章 氮化硅薄膜的光致发光9-20

    1.1 氮化硅的探讨进展9

    1.2 氮化硅的光致发光机制9-17

    1.2.1 量子限制效应模型10-12

    1.2.2 量子限制-发光中心模型12-13

    1.2.3 表面态和钝化13

    1.2.4 能隙态模型13-15

    1.2.5 量子限制效应和缺陷态的共同作用15-16

    1.2.6 包埋于氮化硅中的Si团簇16

    1.2.7 带尾态模型16-17

    1.3 论文选题作用及探讨内容17-20

    第二章 薄膜技术20-42

    2.1 薄膜生长历程20-22

    2.2 沉积历程的分类22-29

    2.2.1 物理气相沉积历程23-28

    2.2.2 化学气相沉积历程28-29

    2.3 磁控溅射镀膜29-34

    2.3.1 磁控溅射镀膜的原理29-31

    2.3.2 磁控溅射系统的组成31-33

    2.3.3 磁控溅射中的真空系统33-34

    2.4 薄膜材料的表征34-42

    2.4.1 光致发光(PL)36-37

    2.4.2 扫描电镜(SEM)37-38

    2.4.3 X射线光电子能谱(XPS)38-39

    2.4.4 傅里叶变换红外吸收谱(FTIR)39-42

    第三章 SiNx的光致发光探讨42-54

    3.1 SiNx样品的制备42-43

    3.2 SiNx样品的浅析43-50

    3.2.1 PL浅析43-45

    3.2.2 SEM浅析45-46

    3.2.3 XPS浅析46-49

    3.2.4 FTIR浅析49-50

    3.3 结果与讨论50-52

    3.4 小结52-54

    第四章 Si/SiNx超晶格能带结构54-68

    4.1 介绍54-57

    4.1.1 能带论述54-55

    4.1.2 超晶格55-57

    4.2 Si/SiNx超晶格系统57-61

    4.2.1 建立Si/SiNx超晶格模型57-58

    4.2.2 计算Si/SiNx超晶格模型58-61

    4.3 Si/SiNx超晶格能带浅析61-67

    4.3.1 膜厚对能带的影响61-64

    4.3.2 有效质量与膜厚的联系64-67

    4.4 小结67-68

    第五章 总结与展望68-70

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