试析应答器轨旁电子单元C接口特性测试

致谢5-6

中文摘要6-7

ABSTRACT7-8

目录8-10

1 引言10-17

1.1 地面应答器与轨旁电子单元10-14

1.1.1 地面应答器11-12

1.1.2 轨旁电子单元12-14

1.2 探讨背景14-16

1.2.1 国外探讨近况14-15

1.2.2 国内探讨近况15

1.2.3 目前探讨的不足15-16

1.3 探讨作用16

1.4 论文结构16-17

2 C接口特性测试需求浅析17-22

2.1 信号电平测试需求浅析18

2.2 波形与编码测试需求浅析18-19

2.3 平均数据速率测试需求浅析19

2.4 时间抖动测试需求浅析19-21

2.4.1 时间抖动的概念19-20

2.4.2 时间抖动测试需求浅析20-21

2.5 频率测试需求浅析21

2.6 谐波测试需求浅析21

2.7 小结21-22

3 C接口特性测试策略探讨22-44

3.1 C接口信号分离22-34

3.1.1 信号检测及去直流分量22-23

3.1.2 C接口信号分离23-34

3.2 C接口特性浅析34-43

3.2.1 C1接口特性浅析34-41

3.2.2 C6接口特性浅析41-43

3.3 小结43-44

4 C接口特性测试系统的实现44-59

4.1 系统的功能要求44

4.2 系统硬件平台的实现44-52

4.2.1 系统的硬件组成44-46

4.2.2 嵌入式制约器46

4.2.3 GPIB模块46-48

4.2.4 任意波形发生器48-51

4.2.5 示波器采集模块51-52

4.3 系统软件平台的实现52-58

4.3.1 系统软件功能52-53

4.3.2 信号产生软件53-56

4.3.3 信号浅析软件56-58

4.4 小结58-59

5 系统测试与验证59-69

5.1 测试平台介绍59-62

5.1.1 测试信号源59-60

5.1.2 信号发生器平台60-62

5.2 测试制约流程62-63

5.3 测试数据浅析63-68

5.4 实际测试运用68

5.5 小结68-69

6 结论与展望69-70