本站原创摘要5-7
Abstract7-12
第一章 绪论12-21
1.1 论文探讨背景及作用12-13
1.2 液晶光学相控阵器件的进展概况13-15
1.3 波前测量技术的国内外探讨近况15-19
1.4 液晶光栅相控阵波前测量技术的国内外探讨近况19
1.5 本论文探讨的主要内容19-21
第二章 液晶光栅相控阵原理及性能浅析21-37
2.1 液晶光栅相控阵原理21-22
2.2 角谱衍射论述22-24
2.2.1 角谱的含义23-24
2.2.2 基于平面波角谱的衍射论述24
2.3 用角谱论述来浅析液晶光栅相控阵的性能24-36
2.3.1 理想液晶光栅相控阵的性能24-26
2.3.2 液晶光栅相控阵相位轮廓误差对性能的影响26-36
2.3.2.1 周期型相位误差对液晶光栅相控阵性能的影响28-29
2.3.2.2 非周期型相位误差对液晶光栅相控阵性能的影响29-35
2.3.2.3 各种误差源的特点浅析35-36
2.4 小结36-37
第三章 液晶光栅相控阵波前测试策略浅析37-52
3.1 相位误差为周期型时的波前测试策略37
3.2 相位误差为非周期型时的波前测试策略37-51
3.2.1 直接测试相位法38-39
3.2.1.1 测试策略浅析38-39
3.2.1.2 工作性能评判依据39
3.2.2 单一衍射级反演法39-51
3.2.2.1 测试策略浅析39-50
3.2.2.2 工作性能评判依据50-51
3.3 小结51-52
第四章 径向剪切干涉波前测试系统浅析52-83
4.1 波前测量策略的选择52
4.2 整体测量案例52-53
4.3 径向剪切干涉测量原理53-59
4.3.1 四边形径向剪切干涉光路结构53-56
4.3.2 相位重构算法56-59
4.3.2.1 相位重构算法56-59
4.3.2.2 相位重构算法精度59
4.4 波前重构的计算机仿真59-61
4.5 几种特殊波面入射时的干涉条纹图仿真浅析61-67
4.5.1 平面波入射时得到的干涉条纹图61-63
4.5.2 台阶形波面入射时得到的干涉条纹图63-66
4.5.3 高斯波入射时得到的干涉条纹图66-67
4.6 径向剪切干涉仪用于直接测试液晶光栅相控阵波前浅析67-78
4.6.1 自载波调制剪切干涉法68-77
4.6.2 固定载波调制的剪切干涉法77-78
4.7 径向剪切干涉仪用于单一衍射级反演液晶光栅相控阵波前浅析78-82
4.7.1 测试系统结构79-80
4.7.2 测试策略浅析80-82
4.8 小结82-83
第五章 径向剪切干涉仪测试液晶光栅相控阵波前实验83-100
5.1 剪切干涉仪的标定测试实验83-86
5.2 液晶光栅的静态相位分布86-87
5.3 液晶光栅的电压-相移特性测试实验87-96
5.3.1 液晶光栅在 0.6328μm 光波入射时的电压-相移特性测试89-91
5.3.2 液晶光栅在 1.064μm 光波入射时的电压-相移特性测试91-94
5.3.3 液晶光栅在不同波长光波入射时的电压-相移特性比较94-96
5.4 液晶光栅的偏转波前测试96-99
5.5 小结99-100
第六章 Mach-Zehnder 共轭干涉仪测试液晶光栅相控阵波前浅析及实验结果.100-115
6.1 Mach-Zehnder 共轭移相干涉仪测试原理100-104
6.1.1 共轭移相干涉仪光路结构100-101
6.1.2 移相干涉相位重构算法101-103
6.1.3 Mach-Zehnder 共轭移相测试液晶光栅相控阵波前的两个不足103-104
6.2 Mach-Zehnder 共轭干涉傅里叶变换法测试原理104
6.3 Mach-Zehnder 共轭移相干涉仪相移标定策略104-109
6.3.1 连续在线标定法105-108
6.3.2 正交标定法108-109
6.4 Mach-Zehnder 共轭移相干涉仪测试液晶光栅相控阵波前实验109-114
6.4.1 测量液晶光栅静态相位分布110-111
6.4.2 测量不同周期下液晶光栅波前分布111-114
6.5 小结114-115
第七章 结论和展望115-116
7.1 本论文探讨结论115
7.2 今后工作展望115-116
致谢116-117