试议内建高速嵌入式动态随机存储器可编程内建自测试设计与优化结论

目录2-4

摘要4-5

Abstract5-6

第一章 绪论6-13

1.1 嵌入式存储器在现代VLSI中的重要地位6-7

1.2 嵌入式存储器测试的作用和测试技术的进展7-8

1.3 基于增益单元的嵌入式动态随机存储器8-10

1.3.1 嵌入式动态随机存储器8

1.3.2 基于增益单元的嵌入式动态随机存储器8-10

1.4 增益单元eDRAM对测试的挑战及引入PBIST的必要性10-11

1.5 论文主要工作和革新点11

1.6 论文组织结构11-13

第二章 增益单元存储器测试算法选择13-19

2.1 已知故障模型举例13-15

2.2 增益单元存储阵列中干扰的影响15-16

2.3 增益单元存储器测试算法选择16-19

2.3.1 March算法16-17

2.3.2 Galpat算法17-18

2.3.3 锤子测试18-19

第三章 二级循环嵌套PBIST设计19-59

3.1 设计目标19

3.2 案例调研和确定19-21

3.3 指令集设计21-28

3.3.1 操作指令21-22

3.3.2 配置指令22-25

3.3.3 测试程序范例25-28

3.4 系统框图28-30

3.4.1 测试系统总体框图28-29

3.4.2 PBIST结构29-30

3.5 PBIST的存储器测试流程30-31

3.6 系统模块设计31-52

3.6.1 信号同步器31-32

3.6.2 指令存储器32-33

3.6.3 指令译码器33-43

3.6.4 程序计数器43-44

3.6.5 读写制约器44-45

3.6.6 地址产生器45-47

3.6.7 数据产生器47-49

3.6.8 输出响应浅析与诊断电路49-52

3.7 PBIST功能验证52-54

3.7.1 验证平台的搭建53

3.7.2 功能验证历程和结果53-54

3.8 芯片测试54-59

3.8.1 ATE与待测芯片连接图55

3.8.2 测试55-58

3.8.3 结果浅析58-59

第四章 PBIST设计的优化和改善59-73

4.1 工艺波动对存储器的影响59-60

4.2 应对工艺波动的对策60-61

4.3 新的测试需求61

4.4 PBIST设计优化和改善61-70

4.4.1 系统框图61-64

4.4.2 指令集64-66

4.4.3 时序案例自优化设计66-69

4.4.4 数据保持时间测试69-70

4.5 芯片测试70-73

4.5.1 时序案例自优化功能测试71

4.5.2 数据保持时间测试71-73

第五章 总结与展望73-75

5.1 工作总结73-74

5.2 展望74-75