本站原创摘要4-5
ABSTRACT5-8
1 绪论8-14
1.1 课题探讨背景8-10
1.2 硅钢片涂层绝缘电阻测量探讨近况及进展走势10-12
1.3 本课题的探讨思路和革新内容12-14
1.3.1 本课题的探讨思路12-13
1.3.2 本课题的革新内容13-14
2 硅钢片表面涂层绝缘电阻测量系统硬件设计14-32
2.1 测量系统硬件概述14-18
2.1.1 测量系统原理概述14-15
2.1.2 测量系统组成结构概述15-16
2.1.3 XE164FM 开发平台概述16-18
2.2 机械制约原理概述18-19
2.3 继电器制约模块19-20
2.4 数据采集模块20-26
2.4.1 取样电阻的选择21-22
2.4.2 电压跟随电路22-23
2.4.3 大功率运放电路23-24
2.4.4 电流取样电路24-26
2.5 数控电源电路26-27
2.6 模数转换模块27-29
2.6.1 A/D 转换器概述27-28
2.6.2 系统 A/D 采集模块28-29
2.7 系统通信部分29-30
2.8 系统供电电源部分30-32
3 硅钢片表面涂层绝缘电阻测量软件设计32-39
3.1 测量系统软件概述32-34
3.2 数模转换器的制约34-36
3.3 模数转换器的制约36-39
3.3.1 TLC2543 的内部制约寄存器36-37
3.3.2 TLC2543 的工作历程37
3.3.3 TLC2543 的接口时序和制约流程37-39
4 测试和浅析系统软件设计39-50
4.1 程序开发环境 LABVIEW概述39-41
4.2 测量系统 LABVIEW程序的实现41-50
4.2.1 数据的通信41-42
4.2.2 数据的显示42-46
4.2.3 数据的运算46-47
4.2.4 数据的存储和打印47-50
5 总结50-52
致谢52-53